专利名称--【一种材料折射率的测量装置】

基本信息
申请号 CN201720110936.9 申请日 2017-02-06 公开(公开)号 CN206557092U 公开(公开)日 2017.10.13
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 申请人地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
发明人 刘世杰;王圣浩;张志刚;李灵巧;王微微 专利类型 实用新型
摘要 一种材料折射率的测量装置,包括仪器本体,所述的仪器本体由封装在仪器外壳内的可调谐激光器、光阑、偏振片、分束器、样品架、计算机、参考光探测器和测试光探测器;沿所述的可调谐激光器的输出光束方向依次是所述的光阑、偏振片和分束器,沿所述测试光的出射方向是固定在样品架上的待测样品,测试光经待测样品反射后,被测试光探测器接收,和放置于待测样品反射光传播方向的测试光探测器,沿所述参考光的出射方向是参考光探测器,所述的测试光探测器的输出端和参考光探测器的输出端分别与计算机相连,所述的可调谐激光器的输出端与计算机相连。本实用新型全自动化的实现了样品折射率的测量,测量速度快、精度高。
主权项 一种材料折射率的测量装置,包括仪器本体,其特征在于,所述的仪器本体由封装在仪器外壳(1)内的可调谐激光器(2)、光阑(3)、偏振片(4)、分束器(5)、样品架(8)、计算机(10)、参考光探测器(11)和测试光探测器(13);沿所述的可调谐激光器(2)的输出光束方向依次是所述的光阑(3)、偏振片(4)和分束器(5),该分束器(5)将光束分为作为测试光的透射光束和作为参考光的反射光束,沿所述测试光的出射方向是固定在样品架(8)上的待测样品(9),测试光经待测样品(9)反射后,被测试光探测器(13)接收,和放置于待测样品(9)反射光传播方向的测试光探测器(13),沿所述参考光的出射方向是参考光探测器(11),所述的测试光探测器(13)的输出端和参考光探测器(11)的输出端分别与计算机(10)相连,所述的可调谐激光器(2)的输出端与计算机(10)相连。
IPC信息
IPC主分类号 G01N21/41(2006.01)I
IPC分类号 G01N21/41(2006.01)I
法律状态信息
法律状态公告日 2017.10.13 法律状态 授权 法律状态信息 授权
代理信息
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 申请人地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
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